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            納米粒度及zeta電位儀 Nanotrac wave II
            納米粒度及zeta電位儀 Nanotrac wave II

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            型號

            Nanotrac wave II

            品牌

            麥奇克/Microtrac

            產地

            日本

            樣本

            暫無
            大昌華嘉科學儀器部

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            核心參數(shù)
            • 測量范圍:

              0.3nm-10μm
            • 誤差率:

              ≤1%
            • 分辨率:

            • 重現(xiàn)性:

              誤差≤1%
            • 儀器原理:

              動態(tài)光散射
            • 分散方式:

              背散射
            • 測量時間:

              30-120秒
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            納米粒度測量——先進的動態(tài)光背散射技術

            Zeta電位測量:Microtrac MRB以其在激光衍射/散射技術和顆粒表征方面的獨到見解,經過多年的市場調研和潛心研究,開發(fā)出新一代NANOTRAC WAVE II微電場分析技術,融納米顆粒粒度分布與Zeta電位測量于一體,無需傳統(tǒng)的比色皿,一次進樣即可得到準確的粒度分布和Zeta電位分析數(shù)據(jù)。與傳統(tǒng)的Zeta電位分析技術相比,NANOTRAC WAVE II采用先進的“Y”型光纖探針光路設計,配置膜電極產生微電場,操作簡單,測量迅速,無需精確定位由于電泳和電滲等效應導致的靜止層,無需外加大功率電場,無需更換分別用于測量粒度和Zeta電位的樣品池,完全消除由于空間位阻(不同光學元器件間的傳輸損失,比色皿器壁的折射和污染,比色皿位置的差異,分散介質的影響,顆粒間多重散射等)帶來的光學信號的損失,結果準確可靠,重現(xiàn)性好。


            測量原理:

            粒度測量:動態(tài)光背散射技術和全量程米氏理論處理

            Zeta電位測量:膜電極設計與“Y”型探頭形成微電場測量電泳遷移率

            分子量測量:水力直徑或德拜曲線


            光學系統(tǒng):

            3mW780nm半導體固定位置激光器,通過梯度步進光纖直接照射樣品,在固定位置用硅光二極管接受背散射光信號,無需校正光路


            軟件系統(tǒng):

            先進的FLEX軟件提供強大的數(shù)據(jù)處理能力,包括圖形,數(shù)據(jù)輸出/輸入,個性化輸出報告,及各種文字處理功能,如PDF格式輸出, Internet共享數(shù)據(jù),Microsoft Access格式(OLE)等。體積,數(shù)量,面積及光強分布,包括積分/微分百分比和其他分析統(tǒng)計數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)的完整性符合21 CFR PART 11安全要求,包括口令保護,電子簽名和指定授權等。


            外部環(huán)境:

            電源要求:90-240VAC,5A,50/60Hz

            環(huán)境要求:溫度,10-35°C

            國際標準:符合ISO13321,ISO13099-2:2012 和 ISO22412:2008


            主要特點:

            ? 采用先進的動態(tài)光散射技術,引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關光譜法

            ? “Y”型光纖光路系統(tǒng),通過藍寶石測量窗口,直接測量懸浮體系中的顆粒粒度分布,在加載電流的情況下,與膜電極對應產生微電場,測量同一體系的Zeta電位, 避免樣品交叉污染與濃度變化。

            ? 異相多譜勒頻移技術,較之傳統(tǒng)的方法,獲得光信號強度高出幾個數(shù)量級,提高分析結果的可靠性。

            ? 可控參比方法(CRM),能精細分析多譜勒頻移產生的能譜,確保分析的靈敏度。

            ? 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設計,減少了多重散射現(xiàn)象的干擾,保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準確性。

            ? 快速傅利葉變換算法(FFT,F(xiàn)ast FourierTransform Algorithm Method),迅速處理檢測系統(tǒng)獲得的能譜,縮短分析時間。

            ? 膜電極設計,避免產生熱效應,能準確測量顆粒電泳速度。

            ? 無需比色皿,毛細管電泳池或外加電極池,僅需點擊Zeta電位操作鍵,一分鐘內即可得到分析結果

            ? 消除多種空間位阻對散射光信號的干擾,諸如光路中不同光學元器件間傳輸?shù)膿p失,樣品池位置不同帶來的誤差,比色皿器壁的折射與污染,分散介質的影響,多重散射的衰減等,提高靈敏度。

            產品參數(shù)
            粒度分析范圍0.3nm-10μm
            重現(xiàn)性誤差≤1%
            濃度范圍100ppb-40%w/v
            檢測角度180°
            分析時間30-120秒
            準確性全量程米氏理論及非球形顆粒校正因子
            測量精度無需預選,依據(jù)實際測量結果,自動生成單峰/多峰分布結果
            理論設計溫度0-90℃,可以進行程序升溫或降溫
            兼容性水相和有機相


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            10分

            售后服務

            10分

            易用性

            10分

            性價比

            10分
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